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钢铁龙头都在用的手持式LIBS激光诱导击穿光谱分

发布日期:2022-01-13 14:49浏览次数:
     Z-300系列手持式LIBS分析仪是世界上最先进的使用激光诱导击穿光谱(LIBS)技术的手持式分析仪。根据型号的不同,配置的光谱范围主要有三种:
标准范围
      l 190 nm – 950 nm(可测量H,N,O,F,Cl,Br,Rb,Ce ,K,S等)
高分辨率CCD光谱仪堆栈设计从而可以测量元素周期表中每个元素(从H-U)的特征谱线。
       Z-300系列采用功能强大的激光光源,能够以5-6 mj /脉冲的频率运行,并具有用户可设置的表面清洁镜头和光束光栅。该设计对于像现实世界中的合金这样具有表面污染的样品至关重要,因此无需研磨或预处理材料。在金属的典型配置中,Z-300会以50 Hz的频率发射激光灼烧0.2 s,清洁样品表面,然后以10 Hz的频率收集数据。接着分析仪将激光移至下一个位置并重复。所有这些设置都针对金属或地球化学样品等特定应用进行了预配置。操作员还可以针对其特定材料自定义此类设置。
       与基于空气的分析仪相比,SciAps专利技术的氩气吹扫技术大大提高了精度和检测极限。可更换式的迷你氩气瓶置于手柄内,单只迷你氩气瓶可支撑600个点的测试,非常适用于现场快速检测。

精密的激光光栅和样品清洁
   内置高清摄像头,可进行微区定点测试,适合分析均质样品中的特定区域和涂层材料等。
   栅格化的可设置特性意味着您可以根据需要,将分析仪设置为单点或多点测试,最小可设定1个点,最大可设定16*16共256个点。可分析任何种类的样品(如:均质材料、材料或小部件中的夹杂物或纹理以及涂层等)。
   Z-300结合了用户可控制的XY激光光栅和集成的高分辨率相机。对于异构样本,用户可以设置和查看栅格图案,以分析样本中的特定区域。
   对于均质样品,当激光束移动到样品上的多个位置时,可以获得最佳的LIBS结果,并将多个位置的结果自动平均。可在XY二维方向上移动激光束,并自动栅格化和平均数据。
Z-300可以设置为在同一位置发射多次激光照射,从而在进行样品数据测试之前,将包括污垢,油污,腐蚀等在内的表面污染物烧掉,随后在相同位置进行的激光照射用于元素分析。用户可以根据实际需要,进行一次或多次清洁设置操作,然后重复进行数据测试,并将XY栅格化到样品上的新位置。对于许多样品,清洁镜头对于获得可重复的精确分析至关重要。
例如,对于岩石样品,用户可以从集成摄像机查看样品,并定制栅格图案以在特定区域上实行LIBS分析。
ElementPro如何工作
测试任何样品,无需校准。
测试仅需1-3秒,仪器会根据光谱数据,搜索仪器自带的发射谱线专有库,为整个元素周期表建立相对发射强度。如图所示,仪器显示样本中找到的所有元素的列表,并谱线的相对丰度进行 “可能性”评估。如果已检测到某个元素所有的发射线或大多数发射线,那么高概率存在的元素状态将会显示为绿色。

光谱查看
需要检查一个或多个元素?只需点击元素图标,App就会缩放到该元素的光谱区域。点击任意一条线,App将放大该特定发射线周围的光谱区域。无论发射线在哪里,它都会显示一个绿色的垂直线。方便用户快速确认元素的存在。
该分析仪具有针对特定应用(合金,地球化学等)的预配置应用程序。用户可以创建自己的自定义分析模型,元素列表和校准曲线。可选配功能全面的ProfileBuilderApp包,其中包括光谱预处理,化学计量,所有元素的发射线识别和定量校准设置。



 
Z-300手持式LIBZ非常适合实验室,教室和现场使用。
    Element Pro包括一个周期表中每个稳定元素的LIBS发射线的内置库。只需测试一个样本,并根据光谱峰,通过算法获得存在的元素列表。Element Pro还基于各种材料中测得的线强度,提供相对丰度的定性分析。点击一个元素以获取标识存在线条的缩放光谱视图。Element Pro是一款理想的应用程序,可快速测试材料以发现存在的元素,而无需进行定量校准。  
                                                           
  根据金属材料缺陷位置及正常位置测得的元素线强度相对丰度的对比,来辅助判断造成缺陷的原因,可能来自某些主元素的成分差异,或者来自某些微量元素的差异。为金属表面缺陷分析提供数据支撑。

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