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赛谱司手持Libs在现场对小零件进行碳分析

发布日期:2021-12-01 17:16浏览次数:
     到目前为止,工业解决方案已经适应光学发射光谱的工具,进行不太全面的手持X射线分析,或将材料送到实验室。
     OES已在该领域使用多年,并能可靠地分级材料,以验证严格的规格。但在测试小部件时,它仍然面临一些重大挑战。这方面的一个例子是大型控制台式仪器,这些仪器配备了一个需要氩气密封的探测器,以正确地测试准确的碳含量。如果部件太小,分析器无法保持氩密封以完成分析,从而导致不可接受或差的结果。一些制造商已经开发出可以连接到探针上的小部件适配器。然而,需要多种类型的适配器来适应不同尺寸和形状的零件。例如,用于焊丝的适配器将与用于管道乳头的适配器不同。没有适当的适配器,用OES测试小部件几乎是不可能的,还需要寻求其他选择。
     X射线荧光手持XRF分析仪一直是实地材料核查的主力。XRF可以测试一些小部件,也有一些制造商已经对X射线光束进行了准直,以进一步帮助测试小部件。但它们不能总是提供详细核查方案所需的分析。在一个例子中,如果一个部分很小,它可能无法获得足够数量的X射线,以提供一个精确的化学,因为光束传播。另一个障碍是XRF分析仪无法测量碳。因此,虽然这些便携式分析仪可以验证材料是316 ss、304 ss还是碳钢,但XRF仪器无法识别316或304 L或H级,也不能识别该碳钢片是1020还是1030。这种分析需要碳含量。因此,需要采用不同的方法对这些部分进行有效的分析和分级。
     将小零件送至实验室进行等级规格测试,可提供准确的结果。然而,测试需要几天而不是几分钟才能在现场进行测试,并且需要将部件送到实验室。另一种方法是从材料中收集刨花,使用人工或机械的帮助将少量材料移除送到实验室。这种方法允许生产者在现场保留原始零件,但仍然需要延迟。
    赛谱司手持LIBS提供了一种新的方法,它是从一种与OES相似的实验室激光技术中发展而来的。在使用连续电火花作为激发源的情况下,LIBS向材料发射脉冲激光以产生等离子体。用分光计测量来自等离子体和单个波长的光,以揭示元素含量,这是通过校准来量化的。在将这项技术转移到手持设备上时,赛谱司手持LIBS分析仪为现场材料验证提供了一个全面的解决方案,其中包括碳分析。赛谱司手持Libs仪器还具有一个小的出口孔径和专利的设计,这样一个良好的清洗是实现的,而不需要密封到曲面或小部件。
    赛谱司手持LIB可以测试比燃烧室更小的部件,不需要适配器。一旦样品表面被制备,小部分与内部摄像机排列,聚焦激光烧蚀材料并产生等离子体。测试面积约为50微米(约一根头发的直径),这可以很容易地容纳即使是最小的部分。相比之下,传统的OES需要非常大的面积(大约四分之一的直径)和氩密封来完成测试。
 
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